강의계획서
| 교과목코드 | JKA01410 | 교과목명 | 반도체테스트기술 |
|---|---|---|---|
| 강의학과 | 반도체시스템공학과 | 교수 | 김경택 |
| 교수소속 | 반도체공학부 | 이수학년 | 4학년 |
| 과목구분 | 이론 | 과정구분 | |
| 이메일 | mjkt.kim@mju.ac.kr | 전화번호 |
| 주차 | 주제 |
|---|---|
| 1주차 | 반도체 테스트 공정 이해 |
| 2주차 | 반도체 테스트 방법론 (Fault Model) |
| 3주차 | 반도체 테스트 방법론 (DFT) |
| 4주차 | 반도체 테스트 환경 |
| 5주차 | 반도체 소자/제품 이해 |
| 6주차 | 테스트 프로그램 이해 |
| 7주차 | 반도체 테스트 Data 이해 |
| 8주차 | 중간 고사 |
| 9주차 | 반도체 테스트 항목 |
| 10주차 | 테스트 품질 관리 |
| 11주차 | 테스트 수율 관리 및 원인 분석 |
| 12주차 | 반도체 불량 분석(eFA) |
| 13주차 | 프로젝트 실습 or 테스트 프로그램 개발 실습 |
| 14주차 | 최근 기술 트렌드 |
| 15주차 | 기말 고사 |
| 16주차 |